物鏡378-822-5三豐Mitutoyo顯微鏡378-823-5
簡要描述：
物鏡378-822-5三豐Mitutoyo顯微鏡378-823-5用于明場的近紅外校正物鏡M Plan Apo NIR / M Plan Apo NIR HRVMU FS70 ■特長 ?用于無限遠校正、明場觀察及激光加工?長工作距離?計劃?阿波羅規(guī)格
產(chǎn)品型號：378-824-5
產(chǎn)品時間：2025-05-21
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用于明場的近紅外校正物鏡
M Plan Apo NIR / M Plan Apo NIR HR
VMU FS70
■特長
?用于無限遠校正、明場觀察及激光加工
?長工作距離?計劃?阿波羅規(guī)格
?從可見區(qū)域（一般觀察波長范圍）到近紅外區(qū)域（波長～1800nm）進行了修正設(shè)計。
?NIR HR：高分辨率規(guī)格?分辨率提高約50%以上（標準型
上述規(guī)格欄的分辨率及物鏡單體的焦點深度是根據(jù)基準波長（λ＝0.55μm）計算出的值。
注）使用波長在1100nm以上時，玻璃分散的變化和折射率等測量會產(chǎn)生誤差，比可見光的焦點位置稍有偏差。
■特長
?用于無限遠校正、明場觀察及激光加工
?長工作距離?計劃?阿波羅規(guī)格
?符合YAG激光器的基本波、第二諧波的激光高透過率類型。從可見光區(qū)域的420nm到近紅外區(qū)域的1064nm進行了修正設(shè)計。
?在保持NIR系列20×、50×NA的狀態(tài)下，實現(xiàn)了25.5mm的超長動作距離，大大提高了操作性。
上述規(guī)格欄的分辨率及物鏡單體的焦點深度是根據(jù)基準波長（λ＝0.55μm）計算出的值。
注）使用波長在1100nm以上時，玻璃分散的變化和折射率等測量會產(chǎn)生誤差，比可見光的焦點位置稍有偏差。
物鏡378-822-5三豐Mitutoyo顯微鏡378-823-5
M Plan Apo NIR 5 × 378-822-5 0.14 37.5 40 2.0 14.0 4.8 0.96 × 1.28 220
M Plan Apo NIR 10 × 378-823-5 0.26 30.5 20 1.1 4.1 2.4 0.48 × 0.64 250
M Plan Apo NIR 20 × 378-824-5 0.40 20.0 10 0.7 1.7 1.2 0.24 × 0.32 300
M Plan Apo NIR 50 × 378-825-5 0.42 17.0 4 0.7 1.6 0.48 0.10 × 0.13 315
M Plan Apo NIR 100 × 378-826-15 0.50 12.0 2 0.6 1.1 0.24 0.05 × 0.06 335
| Mitutoyo | 542-715 |
| HEISHIN | 1005 |
| TOKYO SEIMITSU | DM45513 |
| DM43827 | |
| COPAL | PG-100N-102R |
| PA-830-102A-05 | |
| MITUTOYO | 12AAB421 |
| 0102515 | |
| COPAL | PZ-200 |
| E-DT-SE19B | |
| RSK | 740B 0.02 |